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日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢FE-300光學(xué)膜厚量測(cè)儀$n日本OTSUKA玉崎科學(xué)供應(yīng)大冢光學(xué)膜厚量測(cè)儀$n這是一款小型、低成本的膜厚計(jì)，采用高精度光學(xué)干涉法測(cè)量膜厚，操作簡(jiǎn)單。$n我們采用一體式外殼，將必要的設(shè)備存儲(chǔ)在主體內(nèi)，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。$n盡管價(jià)格低廉，但也可以通過(guò)獲得絕對(duì)反射率來(lái)分析光學(xué)常數(shù)。

OTSUKA日本大塚電子高靈敏度光譜HS-1000輻射計(jì)$nOTSUKA日本大塚電子高靈敏度光譜輻射計(jì)$n這是一款光譜輻射亮度計(jì)，可以從低亮度到高亮度進(jìn)行高速且高精度的測(cè)量。$n利用熱電冷卻線性陣列傳感器，大冢電子光譜光學(xué)設(shè)計(jì)和信號(hào)處理電路在寬亮度和波長(zhǎng)范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)了低噪聲、高精度測(cè)量。

現(xiàn)貨日本otsukae日本進(jìn)口多通道光譜儀$n多功能多通道光譜探測(cè)器，支持紫外到近紅外區(qū)域。頻譜測(cè)量?jī)H需 5ms 即可完成。用作標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備的光纖使其可以與各種測(cè)量系統(tǒng)一起使用，而無(wú)需樣品類型。除了顯微光譜、光源發(fā)射、透射/反射測(cè)量之外，與軟件結(jié)合，還可以進(jìn)行物體顏色評(píng)估、膜厚測(cè)量等。